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MC-2000D涂层测厚仪
  • MC-2000D涂层测厚仪

  • 型号:MC-2000C涂层测厚仪
    测量范围:10~9000um
    示值误差:<3%±1um
    电源:两节1.5v电池
    显示方式:4位液晶数字显示
    功耗:最大功耗100mw
    外形尺寸:51mm×126mm×27mm
    重量:90g
订购热线:0537-2342188

商品介绍

  MC-2000D涂层测厚仪是一款便携式磁性涂镀层测厚仪,涂层测厚仪又称镀层测厚仪,漆膜测厚仪,油漆测厚仪,涂镀层测厚仪,电镀层测厚仪,薄膜测厚仪,覆层测厚仪,电镀测厚仪等,该仪器采用磁感应测厚原理,可以无损的测量出磁性基体上非导磁涂覆层材料的厚度。磁感应方法可用来精确测量所有磁性基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)表面上非磁性涂镀层,例如:油漆层,瓷、搪瓷防护层,塑料、橡胶覆层,合成材料,包括各种有色金属铬、锌、铅、铝、锡、镉电镀层或磷化层,瓷,珐琅,氧化层等。以及化工石油作业的各种防腐涂层。

  磁性涂层测厚仪原理:采用磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小,来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。覆层越厚,则磁阻越大,磁通越小。利用磁感应原理的测厚仪,原则上可以有导磁基体上的非导磁覆层厚度。一般要求基材导磁率在500以上。如果覆层材料也有磁性,则要求与基材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍)。当软芯上绕着线圈的测头放在被测样本上时,仪器自动输出测试电流或测试信号。早期的产品采用指针式表头,测量感应电动势的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚度。近年来的电路设计引入稳频、锁相、温度补偿等地新技术,利用磁阻来调制测量信号。还采用专利设计的集成电路,引入微机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高(几乎达一个数量级)。现代的磁感应测厚仪,分辨率达到0.1um,允许误差达1%,量程达10mm。 

   磁性涂镀层测厚仪应用范围:可以方便无损地测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度,如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。该涂层测厚仪器广泛应用于机械、汽车、造船、石油、化工、电镀、喷塑、搪瓷、塑料等行业。

  MC-2000D型涂(镀)层测厚仪仪器特点: MC-2000D涂层测厚仪(镀层测厚仪)测量范围:10~9000μm,它是高新技术的结晶,它采用单片机技术,精度高、可靠性高、数字显示、示值稳定、功耗低、操作简单方便、触摸按键、单探头全量程测量、体积小、重量轻;且具有存储、读出、统计、低电压指示、系统校准。

  MC-2000D涂层测厚仪图片:
MC-2000A   000_副本.jpg

  MC-2000D型涂层测厚仪主要技术性能:

  1、测量范围:10~9000um

  2、测量误差:<3%±1um

  3、最小示值:1um

  4、显示方式:4位液晶数字显示

  5、主要功能:

  (1)测量:单探头全量程测厚

  (2)存储、删除:可存入测量数据600个,对测量中的单个可疑数据进行删除,也可以删除存储区内的所有数据。

  (3)读:读出已存入的测量数据

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  (4)统计:设有三个统计量,平均值最大值最小值

  (5)校准:可进行系统校准

  (6)电量:具有欠压显示功能

  (7)打印:可打印测量值,选配微型打印机

  (8)关机:具有自动关机和手动关机两种方法

  6、电源:两节1.5v电池

  7、功耗:最大功耗100mw

  8、外形尺寸:126mm*51mm*27mm

  9、重量:160g(含电池)

  10、使用环境温度:0℃~+40℃相对湿度:不大于90%

  11、基体最小厚度:0.5mm

  12、基体最小平面的直径:7mm

  13、最小曲率半径:凸:1.5mm 凹:6mm

  14、欠电压指示:右上角显示""

  *临界厚度小:工件铁基厚度大于1mm时,其涂(镀)层厚度的测量不受铁基厚度影响。

  影响MC-2000D型涂层测厚仪测量结果的因素:

 a 基体金属磁性质

  磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。

  b 基体金属电性质

  基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

  c 基体金属厚度

  每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。

  d 边缘效应

  本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。

  e 曲率

  试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。

  f 试件的变形

  测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上测出可靠的数据。

  g 表面粗糙度

  基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。

  g 磁场

  周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。

  h 附着物质

  本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。

  i 测头压力

  测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。

  j 测头的取向

  测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。

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